ＡＮＳｅｅＮ
フォトンカウンティングによるＸ線 スペクトル分析を活用した散乱 線画像計測技術の研究 — Track: Type A. PI: 小池 昭史. 本研究では、対象物に照射したＸ線散乱成分をフォトン毎に検波す る量子計測法により、物質固有のエネルギースペクトルを検出し、 地中にある対象物の形状および構成する元素成分を識別すること で、埋設物の同定を的確に行なえる新たな探査システムの技術開 発を行います。